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Brewster333半自動IC外觀檢測機

Brewster333是一款高性能的半自動IC外觀檢測機,配備先進的2D和3D量測功能。

描述詳細資訊

Brewster333是一款高性能的半自動IC外觀檢測機,配備先進的2D和3D量測功能。 該設備專為各種IC產品(如BGA、QFP、QFN)設計,可以顯著提高檢測效率,取代傳統的人工檢測。 Brewster333不僅提供準確的檢測數據和報告,還根據不同的產品要求定制舞臺,以確保各種產品的相容性和檢測結果。

【特點】
•一鍵測試:一鍵操作即可啟動測試,簡化操作流程,提高使用便利性。
•無需載體設定:支持快速裝載不同產品,無需額外的設備設定,縮短了準備時間。
•快速檢測:每個託盤的掃描時間僅為2分鐘,大大提高了檢測效率。
•即時報告上傳:檢測報告即時上傳,與MIS系統無縫配合,提供實时資料管理和分析。
•節省生產機器時間:有效縮短檢驗所需的生產時間,提高整體生產效率。
•測試結果和照片存儲功能:記錄測試結果並拍照,以便後續査詢和深入分析。

【產品優勢】
•取代人工IQC進料抽檢:减少人工抽檢工作,提高檢驗的一致性和準確性,確保進料質量。
•更換手動FT首板和生產自檢(IPQC):提供自動檢測功能,在首板檢測和生產過程中進行檢測,以確保產品品質。
•提供託盤地圖:生成託盤地圖,以方便客戶比較和跟踪數據,並提高資料管理和跟踪能力,

【產品規格】

常見問題解答